电子模块广泛应用于消费电子、汽车、航空航天等领域，其环境可靠性直接关系到终端产品的安全与寿命。冲击测试作为环境可靠性检测的一，通过模拟模块在运输、使用中可能遇到的碰撞、跌落、撞击等场景，评估其抗冲击能力。而冲击测试参数的合理选择与控制，是确保测试有效性的关键——它直接决定了测试能否真实反映模块的实际受力状态，进而为设计优化提供准确依据。

冲击脉冲类型：模拟实际场景的核心依据

冲击脉冲是指冲击过程中加速度随时间变化的曲线形态，不同类型的脉冲对应不同的实际冲击场景。半正弦脉冲是最常用的类型，其加速度先快速上升至峰值，再按正弦规律下降至零，主要模拟跌落、轻微碰撞等“软冲击”场景，比如手机从桌面跌落时的受力曲线。

方波脉冲则呈现“快速上升-持续峰值-快速下降”的形态，持续时间内加速度保持稳定，适合模拟硬表面撞击（如汽车追尾时发动机模块的受力）或机械冲击（如工业设备的突然启停）。这种脉冲的破坏力更强，因为持续的峰值加速度会让模块内部结构承受更长时间的应力。

锯齿波脉冲（也叫斜波脉冲）的加速度快速上升至峰值后，缓慢线性下降，主要模拟突然的撞击（如航空行李舱内模块被重物撞击）。与半正弦脉冲相比，锯齿波的上升沿更陡，能更真实反映“瞬间撞击”的受力特点。

峰值加速度：衡量冲击强度的关键指标

峰值加速度是冲击脉冲中的最大加速度值，单位为重力加速度G（1G≈9.8m/s²），它直接决定了冲击的强度。选择峰值加速度时，需以模块的实际应用场景为依据：消费电子模块（如手机摄像头模块）通常承受500-1000G的冲击（对应日常跌落）；汽车电子模块（如发动机控制单元）需承受1500-3000G（对应碰撞事故）；航空航天模块（如卫星通信模块）则可能需要耐受5000G以上的极端冲击（对应火箭发射时的振动冲击）。

需注意的是，峰值加速度并非越高越好——过高的加速度会导致测试结果偏离实际，而过低则无法暴露模块的潜在缺陷。例如，若将消费电子模块的峰值加速度设为3000G，测试中模块的损坏可能是“过度测试”的结果，而非实际使用中的风险。

脉冲持续时间：影响冲击能量的重要变量

脉冲持续时间是指加速度超过阈值（通常为峰值的10%）的时间长度，它与峰值加速度共同决定了冲击的总能量（能量=加速度×时间）。相同峰值加速度下，持续时间越长，模块承受的能量越大，损坏风险越高。

例如，500G的峰值加速度，若持续时间为1ms，总能量为500G·ms；若持续时间为10ms，总能量则为5000G·ms，后者对模块的破坏能力远大于前者。因此，选择持续时间时需参考实际场景的冲击时长：消费电子的跌落冲击持续时间通常为1-5ms，汽车碰撞的持续时间为5-20ms，航空航天的发射冲击持续时间可能长达50ms以上。

冲击方向：覆盖实际受力的全维度

电子模块在实际使用中可能承受多个方向的冲击，因此冲击测试需明确“冲击方向”——通常以模块的安装基准为坐标系（XYZ轴），测试每个轴的正、负方向（共6个方向）。

例如，手机模块的跌落可能涉及X轴（左右）、Y轴（前后）、Z轴（上下）的任意方向，因此需测试所有6个方向的冲击；而汽车发动机模块主要承受Z轴（上下）和X轴（前后）的冲击（如急加速、急刹车或碰撞），则可重点测试这两个方向。需注意的是，部分模块可能承受“组合方向”的冲击（如斜向跌落），此时需通过多轴冲击试验台模拟复合方向的受力。

试验温度：模拟环境对材料性能的影响

温度会改变电子模块材料的力学性能：低温下塑料外壳会变脆、焊锡的延展性下降，高温下胶粘剂会软化、金属的强度降低。因此，冲击测试需结合模块的实际使用温度范围，选择对应的试验温度。

例如，户外使用的物联网模块需耐受-40℃至85℃的温度，因此冲击测试需在-40℃（低温）、25℃（常温）、85℃（高温）三个温度点分别进行；而消费电子模块（如手机）主要在常温下使用，则可仅进行常温冲击测试。需注意的是，温度变化需在冲击前完成——模块需在试验温度下恒温至少30分钟，确保内部温度均匀后再进行冲击。

样品安装方式：确保测试与实际一致的关键

样品安装方式需严格模拟模块在终端产品中的实际固定方式，否则测试结果将失去参考价值。常见的安装方式包括螺栓固定、夹具夹持、胶粘剂粘贴等，需注意以下要点：

首先，固定位置与扭矩需与实际一致——例如，模块在设备中用M3螺栓固定，测试时需使用相同规格的螺栓，并按照设计扭矩（如2N·m）拧紧。

其次，避免“过固定”或“欠固定”——过固定会增加模块的刚性，导致测试结果偏严；欠固定则会让模块在冲击中产生额外的振动，影响测试准确性；最后，需固定模块的“关键部位”——如芯片、连接器等易损部件的安装点，确保冲击应力能传递到这些部位。

数据采集要求：准确捕捉冲击响应的保障

数据采集的核心是获取模块关键部位的加速度响应，需注意以下参数：

传感器选择：优先使用压电式加速度传感器，因其响应频率高（可达100kHz以上），适合捕捉快速变化的冲击脉冲；传感器需粘贴在模块的关键部位（如芯片封装、连接器引脚），而非试验台或夹具上——这样才能真实反映模块内部的受力状态。

采样率：采样率需至少为冲击脉冲频率的5倍以上（奈奎斯特准则），例如脉冲持续时间为1ms（频率1000Hz），采样率需≥5kHz；若采样率不足，会导致峰值加速度被低估或脉冲形态失真。

数据存储：需保存完整的加速度-时间曲线，而非仅记录峰值——曲线能反映冲击过程中模块的动态响应（如是否出现二次冲击、谐振等），为分析模块的失效机理提供依据。