可靠性增长试验是通过暴露并纠正产品缺陷以提升可靠性的核心手段，而试验方案的优劣直接决定增长效果。试验方案评估指标作为量化衡量方案合理性的工具，能帮助工程团队从有效性、效率、成本等维度筛选最优方案，是连接试验设计与实际执行的关键桥梁。

试验有效性指标：缺陷检出率

缺陷检出率是评估方案能否有效挖掘潜在缺陷的核心指标，反映试验对产品薄弱环节的“探测能力”，计算公式为：缺陷检出率=（试验检出缺陷数/产品真实缺陷总数）×100%。其中“真实缺陷总数”需通过后续数据综合估计，是统计参考值。

其高低与试验环境设计密切相关。例如户外通信设备若仅在常温下试验，极端环境下的密封失效缺陷难以检出，导致检出率偏低。因此方案需结合产品使用场景设计环境应力（如温度循环、振动组合），提升检出率。

样本量也影响检出率。若某产品真实有20个缺陷，3个试样仅能检出6个（30%），10个试样可检出15个（75%），足够样本量是避免“漏检”的基础。但需避免过度强化环境导致“误检”（如超设计极限的振动产生非真实缺陷），需在有效检出与避免误检间平衡。

增长效率指标：可靠性增长斜率

可靠性增长斜率描述可靠性参数（如MTBF）随试验时间的变化率，是衡量增长速度的关键，计算公式为：增长斜率=（末期MTBF-初期MTBF）/试验时间，单位通常为“小时/小时”，数值越大增长越快。

评估需结合初期水平与目标要求。例如某产品初期MTBF100小时，目标500小时，试验1000小时，斜率0.4小时/小时可满足目标；若仅0.2小时/小时则未达标，需优化方案。

斜率稳定性也需关注。前期高斜率可能因纠正重大缺陷（如电源设计错误），后期斜率下降是正常的，但需避免“增长停滞”。此外需与行业基准对比，若行业平均斜率0.3小时/小时，方案斜率0.5则更优，0.1则需调整。

资源利用指标：试验成本效益比

成本效益比衡量资源投入与可靠性收益的匹配度，直接关系经济效益，计算公式为：成本效益比=试验总投入/可靠性提升收益。总投入包括直接成本（试样、设备）与间接成本（工时、机会成本）；收益包括售后成本减少、市场份额提升等。

例如某方案投入200万元，可靠性提升后年售后成本减少100万元、市场收入增加300万元，年收益400万元，成本效益比0.5（投入1元获2元），方案可行；若收益仅100万元，比值2则不可行。

需关注成本结构：若直接成本（设备租赁）占比80%，可通过设备共享降低；若间接成本（工时）占比80%，可优化流程或引入自动化测试。同时需结合紧迫性，若产品面临退市风险，即使比值略高仍需实施。

风险控制指标：未检出缺陷风险率

未检出缺陷风险率衡量试验后仍存在缺陷导致市场故障的概率，关系产品市场可靠性，计算公式为：风险率=（未检出缺陷数×单个缺陷故障概率）/总缺陷数。故障概率按严重度赋值（致命1.0、严重0.5、轻度0.1）。

例如某产品未检出5个缺陷（2致命、2严重、1轻度），风险率=（2×1+2×0.5+1×0.1）/15≈20.7%，若企业可接受15%则需优化方案（如增加试验时间）。

评估需结合缺陷严重度：致命缺陷即使数量少，风险率也高，需优先验证。试验后需通过加速寿命试验或现场试用验证，若发现新缺陷则修正估计值，确保风险率可控。

方案稳健性指标：环境适应性覆盖度

环境适应性覆盖度评估试验环境对实际使用环境的覆盖程度，关系试验结果代表性，计算公式为：覆盖度=（试验覆盖关键环境因子数/实际使用关键因子数）×100%。关键因子需通过FMECA确定（如温度、振动）。

例如手机实际使用有常温、高温、低温、高湿、振动5个因子，若试验仅覆盖3个，覆盖度60%；增加组合试验（如高温+高湿）才能检出电路板腐蚀缺陷，避免“覆盖因子但未覆盖组合”的问题。

需结合地域市场调整：北方市场需覆盖-40℃低温，南方市场可降低优先级，避免过度试验增加成本。

数据可信度指标：试验样本量充足度

样本量充足度评估试样数量是否满足统计要求，关系数据可信度，计算公式因检验类型而异：如缺陷检出率检验需n≥Z²×p×(1-p)/E²（Z为置信水平Z值，p为预期检出率，E为允许误差）。

例如置信95%（Z=1.96）、预期检出率80%、允许误差5%，需样本量≥245。若方案仅100个试样，充足度40.8%，数据方差大，可信度不足。

需结合试验类型：可靠性增长试验通常逐批增加样本量（第一批20、第二批30、第三批40），平衡统计要求与成本。避免过度试验（如样本量超245），防止成本浪费。

纠正措施有效性指标：缺陷闭环率

缺陷闭环率衡量缺陷纠正与验证的有效性，关系可靠性增长落地，计算公式为：闭环率=（已闭环缺陷数/检出缺陷总数）×100%。闭环需完成根本原因分析、纠正措施、验证试验三个步骤。

例如检出10个缺陷，7个完成闭环（原因分析+措施+验证），闭环率70%。若企业要求90%则需优化，如加强根本原因分析深度（用5Why法），避免仅描述现象（如“死机是软件闪退”未深入代码逻辑）。

需结合缺陷严重度：优先闭环致命/严重缺陷，确保关键缺陷闭环率100%，再处理轻度缺陷。验证方式需匹配缺陷类型：硬件缺陷需重新试验，软件缺陷需单元+系统测试，避免理论验证导致的无效闭环。